Nouvelle échelle atomique technique de microscopie 'offre une meilleure précision »

Une nouvelle technique de microscopie a été développé par des scientifiques américains qui leur permet de réduire le risque de distorsion de la microscopie à l'échelle atomique.

Menée par l'Université d'Etat de Caroline du Nord, l'étude détaillée d'un moyen de prévenir les inévitables mouvements de l'échantillon qui se produisent lors de la capture d'images à l'échelle nanométrique, ce qui entraîne des résultats biaisés et inexacts.

Les microscopes électroniques à transmission utilisées pour capter ces images ont été programmés pour tourner la direction dans laquelle il analyse l'échantillon, ce qui permet la distorsion causée par la dérive à observer d'un point de vue différent.

Les images ont été ensuite exportées dans un programme élaboré pour déterminer la direction et l'ampleur de la dérive précis au sein de l'échantillon, ce qui signifie ces inexactitudes peuvent être comptabilisés et éliminés.

Auteur principal Dr James LeBeau, un professeur adjoint de science des matériaux et de l'ingénierie à NC State, a déclaré: "Nous pouvons maintenant regarder échantillons complètement inconnus et découvrir leurs structures cristallines – ce qui est une étape importante pour nous aider à contrôler les propriétés physiques d'un matériau."

Cette découverte aidera futurs projets de recherche qui nécessitent précise imagerie à l'échelle atomique, comme dans le développement de nouvelles solutions de nanotechnologie.