Thermo Fisher Scientific lance de nouveaux produits d'analyse des pannes à semi-conducteurs

Thermo Fisher Scientific a annoncé le lancement de trois nouveaux produits pour les laboratoires d'analyse des pannes à semi-conducteurs.

Le premier est le système de rayons ioniques à plasma focalisé Helios G4, qui est conçu pour déprocesser et fournir une analyse de microscope électronique à balayage ultra haute résolution sur une grande variété de dispositifs semi-conducteurs.

Pendant ce temps, le système FlexProber est conçu pour aider les ingénieurs à localiser et à identifier rapidement les défauts électriques, ce qui contribue à déterminer les défauts à la fois à l'interconnexion et aux niveaux des transistors de la plaquette semi-conductrice.

Enfin, la société lance le microscope électronique à transmission Themis S, qui fournit une image de résolution au niveau atomique et une analyse chimique à haut débit utilisant des dispositifs semi-conducteurs difficiles.

Les trois produits ont été introduits en réponse à l'évolution rapide du rythme du marché des semi-conducteurs, avec une forte croissance observée dans la mémoire, la fonderie, l'Internet des choses, les marchés avancés d'emballage et d'affichage.

Rob Krueger, vice-président et directeur général des semiconducteurs de Thermo Fisher Scientific, a déclaré: «Notre gamme d'outils d'analyse des échecs couvre un ensemble diversifié de clients semi-conducteurs avec un large éventail d'exigences».

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